Dnia 27 stycznia 2009 roku obyła się XXVIII Wspólna Sesja Naukowa Wydziału IV WTN i SSN SPENT, na której został wygłoszony wykład dr. inż. Andrzeja Sikory pt. „Przetwarzanie i reprezentacja wyników pomiarowych w różnych technikach diagnostycznych mikroskopii bliskiego pola”. Omówione zostały m.in. filtry chropowatości, detekcja krawędzi, przejście przez „0”, transformaty Hougha i Fouriera. Dodatkowo dowiedzieliśmy się, iż niektóre sygnały pomiarowe pomagają nam w ocenie obiektu, oraz jak oceniać złożenia domen anizotropowych oraz szumy termiczne (szczególnie w mikroskopii sił magnetycznych – magnetic force microscopy, MFM).
Bonusem wykładu była prezentacja możliwości ciekawego dema gry, pozwalającej na poruszanie się w realiach nanoświata.
Wszystkie te zabiegi prowadzą do tego, aby wynik pomiaru został przedstawiony w jak najbardziej przyjaznej formie dla człowieka, który nie jest związany z taką praktyką na co dzień, jak i dla nowicjusza w tej dziedzinie. Trzeba jednak pamiętać o tym, żeby przedstawiana informacja była wciąż informacją prawdziwą…