W dniach 5-8 marca 2014 roku w Szklarskiej Porębie po raz kolejny odbyło się Ogólnopolskie Seminarium Techniki Jonowe połączone z Zimową Szkołą Nanoinżynieria Powierzchni, na którym nie zabrakło członków SPENTu. Seminarium to pełne było wykładów, sesji plakatowych, a także nie zabrakło „zajęć w plenerze”. W trakcie pieszej wycieczki, ze Szklarskiej Poręby dotarliśmy w okolice Łabskiego Szczytu, gdzie pomimo łagodnej zimy leżało jeszcze co nieco śniegu – w sam raz, by połączyć przyjemne z pożytecznym. Podczas uroczystej kolacji został zaprezentaowany sprzęt wykorzystywany do spektroskopii impedancyjnej oraz mikroskopy STM/AFM konstrukcji pracowników ZMMiN oraz członków SSN SPENT – studentów, jak i doktorantów. Pokaz ten spotkał się z dużym zainteresowaniem gości, była polem do żywych dyskusji, jak i umożliwiła uzyskanie nowych kontaktów naukowych.
W czasie sesji wykładowych członkowie SSN SPENT przedstawili wyniki swojej działalności naukowo-badawczej:
- inż. Michał Babij „Nowoczesne atmosferyczne źródła jonów do spektrometrii mas”,
- mgr inż. Konrad Chabowski „Pomiary impedancyjne struktur biologicznych”,
- mgr inż. Krzysztof Gajewski „Skaningowa Mikroskopia Tunelowa, dawniej i dziś”,
- mgr inż. Daniel Kopiec „Wielorezonansowa mikroskopia sił atomowych w pomiarach właściwości elektrycznych powierzchni”,
- mgr inż. Wojciech Majstrzyk „FIB by beginners: ion and electron beam laboratory for MEMS/NEMS FoMaMet research”,
- mgr inż. Magdalena Moczała „Pomiary właściwości mechanicznych struktur FoMaMet metodami SPM”,
- mgr inż. Karolina Orłowska „Pomiary SPM struktur rozciąganych mechanicznie”,
- mgr inż. Maciej Rudek „Pomiary prądów w szerokim zakresie wartości za pomocą układów liniowych i logarytmujących w mikroskopii SPM NANOHEAT”.
Podczas sesji plakatowej zostały zaprezentowane następujące prace:
- inż. Michał Babij „Two types of atmospheric pressure plasma jet – construction and working principles”,
- inż. Paweł Biczysko „Configurable ARM Microprocessor Based Controller for Scanning Probe Microscopy Applications”,
- inż. Andrzej Dzierka „Wektorowe obrazowanie powierzchni w mikroskopii bliskich oddziaływań”,
- inż. Piotr Kunicki „Laboratory of MEMS/NEMS investigations using FIB/SEM methods”,
- mgr inż. Konrad Chabowski „Evaluation of biofilm formation by interdigitated electrode chip”,
- mgr inż. Krzysztof Gajewski „Kompensacja dryfu w mikroskopie tunelowym przeznaczonym do badań nanostruktur grafenowych FoMaMet”,
- mgr inż. Daniel Kopiec „Wielorezonansowa mikroskopia SPM”,
- mgr inż. Wojciech Majstrzyk „Mass Change and Force Nanometrology Using Piezoresistive Lorentz Force Actuated Emagtool Cantilevers”,
- mgr inż. Piotr Pałetko „Wytwarzanie nanostruktur FoMaMet metodą litografii ze zwilżonym ostrzem”.
Galeria zdjęć oraz szczegółowy program są dostępne na stronie www seminarium.