W dniach 3 – 7 grudnia w Zakopanem odbyło się „VIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014” organizowane przez Centrum NANOSAM, Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego. Na tym seminarium nie zabrakło też SPENTowiczów!!! Pojawiliśmy się liczną ekipą i zaprezentowaliśmy wyniki naszych prac naukowych. Podczas wykładów, jak i sesji plakatowych swoje prace zaprezentowali:
- inż. Andrzej Dzierka ARMScope – uniwersalny, zintegrowany sterownik mikroskopu sił atomowych
- mgr inż. Krzysztof Gajewski – Badanie i optymalizacja właściwości szumowych skaningowego mikroskopu tunelowego
- mgr inż. Krzysztof Gajewski – Charakteryzacja membran grafenowych z wykorzystaniem mikroskopii bliskich oddziaływań
- mgr inż. Daniel Kopiec – Mikroskopia sił ścinających z wykorzystaniem dźwigni mikromechanicznych aktuowanych siłą Lorentza
- mgr inż. Daniel Kopiec – Pomiary oddziaływań elektrostatycznych z wykorzystaniem mikrodźwigni sprężystych aktuowanych siłą Lorentza
- Marta Krukiewicz – Badanie ogniw słonecznych z wykorzystaniem mikroskopii sił elektrostatycznych
- mgr inż. Wojciech Majstrzyk – Magnetoelektrycznie aktuowane dźwignie krzemowe jako wzorzec wychylenia dla pomiarów statycznych i rezonansowych
- mgr inż. Wojciech Majstrzyk – Metrologia i zastosowanie magnetoelektrycznie aktuowanych matryc dźwigni krzemowych dla wielodźwigniowej spektroskopii sił
- mgr inż. Magdalena Moczała – Charakteryzacja nanodrutów krzemowychuwolnionych z podłoża metodami mikroskopii sił atomowych
- mgr inż. Magdalena Moczała – Pomiary właściwości mechanicznych struktur MEMS za pomocą mikroskopii sił atomowych
- mgr inż. Karolina Orłowska – Metodyka modyfikacji ostrzy belek do mikroskopii sił ścinających
- mgr inż. Karolina Orłowska – Światłowodowy interferometr Fabry’ego-Perot’a do pomiaru wychylenia w głowicy pomiarowej AFM o szerokim polu skanowania
- mgr inż. Maciej Rudek – Kalibracja sond termicznych NanoHeat dla mikroskopii termicznej
- mgr inż. Maciej Rudek – Platforma czujnikowa NanoHeat do metrologicznej charakteryzacji własności elektrycznych i termicznych nanostruktur
Zdjęcia z seminarium będą dostępne wkrótce.