W dniach 8-10 lipca członkowie SSN SPENT wspierali prace komitetu organizacyjnego podczas 4. Krajowej konferencji Nano- i Mikromechaniki. Choć „krajowa”,
gościło na niej wiele osób z zagranicy. Poza pomocą techniczną członkowie naszego koła przedstawili również wyniki swoich dotychczasowych prac:
- M. Babij – Investigation and calibration of resonant parameters of electromagnetically actuated/detected cantilevers in vacuum,
- P. Biczysko – Configurable ARM Microprocessor Based Controller for Scanning Probe Microscopy Applications,
- K. Gajewski – Investigations of electrical and mechanical propoerties of graphene based devices,
- A. Gosiewska – Impedance spectroscopy measurements of quartz tining forks,
- D. Kopiec – Electromagnetically actuated cantilevers for multi-resonant operation in force/stress sensing application and scanning probe microscopy,
- P. Kunicki – From MEMS to NEMS with FIB technology,
- W. Majstrzyk – Metrology of electromagnetically actuated cantilevers,
- M. Moczała – Metrology of silicon nitride microbridges,
- K. Orłowska – Fabry-Perot interferometer as an fibre optic displacement sensor for MEMS and NEMS deflection measurements,
- P. Pałetko – Characterization of released silicon nanowires as sensors,
- K. Raczkowski – Precise Current Integrator for Scanning Probe Microscopy Applications,
- M. Słociński – ARM Scanner – multifunctional scanning probe microscopy controller,
- M. Świątkowski – 3-way optical amplitude sensor for large area X-Y piezoscanner displacement monitoring.
Poznaliśmy wiele interesujących zagadnień z zakresu Nano- i Mikromechaniki. Wiele się nauczyliśmy, a jednocześnie sami dzieliliśmy się wiedzą –
zarówno podczas wykładów, sesji plakatowych jak i wielu imprezach towarzyszących. Więcej informacji na temat konferencji oraz zdjęcia można znaleść
na stronie Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur